JVT复合型视频测量仪
供应商：南京卡普计量仪器有限公司[查看公司详情]
所在地：南京市栖霞区和燕路251号金港大厦A座
价格：0.0
经营模式：贸易型
联系人：程（女士）
产品简介
产品特点 1、高精密花岗岩底座和立柱，坚固稳定。 2、采用LED冷光源，底光和表面光手动可调，实现透射和反射照明，亮度高，寿命长，体积小。 3、采用连续变倍的物镜可以快速改变图像的放大倍率，适用于不同工件的测量。 4、无间隙摩擦传动，可切换快速移动，大大提高了工作效率。 5、JVT系列是在JVP型的基础上，增加了高精度Renishaw探针测头，配备TPM专用软件，可作立体工件上的斜面、圆、槽沟、柱、球、锥、盲孔、高度等测量，以及各要素的相关位置、距离、角度计算，可一次性完成整个测量。 产品用途 1、能地检测各种形状复杂工件的轮廓、表面形状及尺寸、角度和位置，特别是精密部件的微观检测与质量控制。 2、适用于电子、仪器仪表、刀夹具、精密机械件、精密五金件、电子元器件、塑料与橡胶成品、半导体元器件、冲压件、接插件、模具、汽车、机械加工、、航天航空、高等院校、科研院所等行业及各级计量部门或车间检查站。 性能参数 型号 JVT250 JVT300 JVT400 流量行程（mm） 250×150×200 300×200×200 400×300×200 操作方式 手动（可快速切换移动） CCD 进口彩色41万像素高清晰CCD 镜头 美国原装NAVITAR全自动镜头 放大倍率 光学放大率：0.7--4.5X，影像放大率：28--180X 软件 FOIC 半自动测量软件+TMP三坐标半测量软件 光学尺解析度 1um 重复性 2 um X,Y轴测量精度 （3+L/200）um 几台承重 30kg 使用环境 电源供给：110v-220v ± 10% 50/60Hz 温度：20±5℃ 湿度：45%-75% 仪器外形尺寸（mm） 800×500×1650 980×650×1650 软件功能：TPM三坐标测量软件（JVT专用） 几何元素测量功能：采集点、线、圆、椭圆、平面、球、圆筒、圆锥等； 组合计算功能：具有距离、角度、组合点、组合面、组合圆等组合计算功能； 形位公差：计算真直度、真圆度、平面度、圆柱度、垂直度、平行度、同轴度等； 探针校正和坐标调整：进行探针校正、工件坐标调整； 探头测量方位：可进行多种探头方式和多种角度选择； 数据输出：可输出Excel、Word、AutoCAD等软件进行进一步处理和统计分析。 半自动测量软件： 软件特点： 适用于WINDOWS XP操作系统 提供彩色高品质影像 可测量点、线、圆、距离、角度，计算真圆度、真直度、同心度等，并能实时产生检验报表 可切换成中文简体、繁体、英文三种界面 可根据实际物体的摆放位置，在原有坐标系与实际位置不符时，可重新建立新坐标系并自动摆正 图形及测量值可用WORD、EXCEL、DXF等格式自由输出 具有影像寻边功能，可设定感应灵敏度和定焦精度，能避免视觉误差 测量画面可储存成影像文件（JPG、BMP）或转AUTOCAD中进行编辑 可方便切换测量值的基本单位（mm或inch） 可将（X、Y）笛卡尔直角坐标系转换成（r、θ）极坐标系。 软件功能： 基本几何测量：测量点、线、圆、圆弧、椭圆等。 自动测量功能：自动寻边测量、框选测量、筛选毛边自动寻边快速测量点、线、圆、弧等。 组合元素测量：对点、线、圆进行组合测量，可计算圆心距、圆切线、两线中线、中心点、垂直距离、角平分线、两线交点等。 形位误差测量：测量计算同心度、真圆度、直线度、位置度、倾斜度等形位误差。 坐标系设定：可对原始坐标进行坐标平移、坐标旋转，针对物件的位置进行摆正，或是重设新的坐标系。 对比功能：将几何测量的工件影像图形以DXF格式输出，进行实时对比测量，还能分别调出AutoCAD工程图纸的文档与影像DXF文档图形进行重叠对比测量，从而检定工件与标准图纸之间的偏差。 半自动测量高度：对焦指示器可以利用Z轴微步距移动，进行对焦以获取多个清晰的Z轴断层图像，并且可以将它们合成一个清晰完整的图像组合，系统会根据图像组合判定图像的清晰度位置，的增强测量的可靠性和重复精度性，减小误差。 尺寸标注功能：可在物体影像测量中，根据影像图形进行复合运算测量，而无需点击功能键和命令栏，并可直接对影像视窗中的影像图形进行长度、角度、坐标、半径等的标注。 检测结果的输出：可输出DXF/WORD/EXCEL等进行数据处理。 形位公差设定：可将工件中的几种形位位置公差，以快捷键形式标识出来，并可在智能化对话框中进行选择，操作简单方便。 直轴光源系统：采用直轴光源系统可高精度的显示工件轮廓，使工件在利用半自动版影像测量软件进行测量时，能更的获得测量数据。 2D抄数功能：测量软件可进行逆向工程中2D/3D抄数，以便能制作标准的2D工程图及三维模型，为其它五金塑胶模具等逆向工程开发提供了极大空间。 测量资料统计（SPC）：操作者可根据工件测量要求，自行编辑数据统计表。如可对值、小值、平均值、偏移量、平均偏移量、标准差、X-R、XM-R管制图、X-S、Ca、Cp、Cpk等数据进行统计。 半自动学功能：测量系统有半自动程序编程功能，可储存/调出使用。进行批量检测时只需进行一次测量路径编程后，可自动抓取测量点，无需再次操作。
