双折射残余应力测量仪
供应商：北京欧屹科技有限公司[查看公司详情]
所在地：中国 北京 北京市昌平区 龙冠大厦612室
价格：面议
经营模式：贸易型
联系人：鲁涛
产品简介
WPA-200-L
WPA系列可测量相位差高达3500nm，适合PC等高分子材料，是Photonic lattic公司以其领先世界的光子晶体制造技术开发的产品，独特的测量技术，高速而又精确的测量能力使其成为不可多得的光学测量产品。 该产品在测量过程中可以对视野范围内样品一次测量，全面掌握应力分布。可测数千nm高相位差分布的万能机器，最适合用来测量光学薄膜或透明树脂。量化测量结果，二维图表可以更直观的读取数据。
WPA-200-L
主要特点:
- 操作简单，测量速度可以快到3秒。
- 采用ＣＣＤ Camera，视野范围内可一次测量，测量范围广。
- 测量数据是二维分布图像，可以更直观的读取数据。
- 具有多种分析功能和测量结果的比较。
- 维护简单，不含旋转光学滤片的机构。
- 可测样品尺寸更大。
主要应用：
· 光学零件（镜片、薄膜、导光板）
· 透明成型品（车载透明零件、食用品容器）
· 透明树脂材料（PET PVA COP ACRYL PC PMMA APEL COC）
· 透明基板（玻璃、石英、蓝宝石、单结晶钻石）
· 有机材料（球晶、FishEve）
技术参数：
| 项次 |
项目 |
具体参数 |
| 1 |
输出项目 |
相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】 |
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| 2 |
测量波长 |
520nm、543nm、575nm |
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| 3 |
双折射测量范围 |
0-3500nm |
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| 4 |
测量最小分辨率 |
0.001nm |
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| 5 |
测量重复精度 |
<1nm（西格玛） |
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| 6 |
视野尺寸 |
33x40mm-240×320mm（标准） |
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| 7 |
选配镜头视野 |
3×4-12.9×17.2mm |
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| 8 |
选配功能 |
实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制 |
测量案例：
