离线式组件EL缺陷检测仪
供应商：武汉三工激光科技有限公司[查看公司详情]
所在地：湖北省武汉市洪山区东湖高新技术开发区黄龙山北路4号
价格：168888
经营模式：
联系人：陶芳
产品简介
一、离线式组件EL缺陷检测仪描述
用于晶体硅的缺陷检测，可与客户的产线配套，实现自动上下料，自动测试，可人工对缺陷进行标记，保存在本地或远端数据库中，PC控制软件可通过以太网接口实现与客户系统对接，传输测试结果和报警信息，并可依据客户需求定制功能。
二、离线式组件EL缺陷检测仪组成部件简介
1、成像系统
成像系统采用采用进口的SONY EXview HAD CCD，有140万、600万可供用户选择，并支持双相机模式。
的成像质量，SONY EXview HAD CCD，成像质量优良，并带有半导体制冷，可达-20°C，排除热噪声的影响，使图像质量进一步提升，一体化设计，接口简单，便于维护，CCD相机采用一体化设计，USB接口供电和数据传输，维护简单。
2、运动控制单元
运动控制单元负责整个EL全自动测试仪的流程控制和单个功能模块的手动功能调试。
运动控制单元采集传感器的状态来控制设备的工作流程，同时通过传感器获知各个单元的工作状态，当某个工作单元出现故障时，运动控制单元能够立刻停止当前的操作并保持状态，并通过串口与PC机交互发送和接收命令和上传报警信息。
3、计算机控制系统
（1）计算机配置工业控制电脑，稳定性好，中文WindowsXP操作系统。
（2）专用缺陷检测（EL）图像采集处理软件采用操作界面，简单明了，
中/英文操作环境，支持手动标记缺陷位置，不同的缺陷具有不同的标记符
号，方便识别，标记结果可与图片一同保存。
（3）数据库管理测试结果，便于检索和查找，并可与数据库接口，上传
测试结果。
（4）提供以太网接口，可同客户生产管理系统接口，上传测试图片、设备工
作状态和报警信息。
三、离线式组件EL缺陷检测仪技术参数
型号规格
EL600S/D-A
EL830S/D-A
EL1600S-A
测试面积
2000×1200mm
适用范围
层压前/层压后
分辨率
3032*2016
3358*2536
4928*3262
6656*2030
6716*2536
测试组件类型
单晶、多晶组件
相机类型
冷却型CCD
CMOS
测试效率
150pcs/h
曝光时间
0—30s可调
压缩空气
0-0.8MP
可检测缺陷类似
检测太阳能电池组件有无隐裂、碎片、虚焊、断栅及
不同转换效率单片电池异常现象
